BS ISO 22278:2020
Статус: Дата введения в действие:
Обозначение | BS ISO 22278:2020 |
---|---|
Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam |
Количество страниц оригинала | 38 |