BS ISO 20263:2017
Статус: Дата введения в действие:
Обозначение | BS ISO 20263:2017 |
---|---|
Заглавие на английском языке | Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials |
Количество страниц оригинала | 54 |