IEC/PAS 62164(2000)
Руководящие указания по проведению испытаний на долговечность GaAs-полупроводниковых интегральных схем СВЧ-диапазона (GaAs MMIC) и полевых транзисторов (FET)
Статус: Отменен Дата введения в действие: 01.08.2000
| Обозначение | IEC/PAS 62164(2000) |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Руководящие указания по проведению испытаний на долговечность GaAs-полупроводниковых интегральных схем СВЧ-диапазона (GaAs MMIC) и полевых транзисторов (FET) |
| Заглавие на английском языке | Guidelines for GaAs MMIC and FET life testing |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 01.08.2000 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Отменен |