IEC/PAS 62162(2000)
Метод испытания на определение порогов устойчивости к электростатическому разряду для компонентов микроэлектроники с помощью модели зарядного устройства с индуцированным полем
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.08.2000
| Обозначение | IEC/PAS 62162(2000) |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Метод испытания на определение порогов устойчивости к электростатическому разряду для компонентов микроэлектроники с помощью модели зарядного устройства с индуцированным полем |
| Заглавие на английском языке | Field-induced charged-devise model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 01.08.2000 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | B |