IEC 60147-0F(1982)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Шестое дополнение к публикации 147-0-66
Статус: Заменен Дата введения в действие: 01.01.1982
| Обозначение | IEC 60147-0F(1982) |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Шестое дополнение к публикации 147-0-66 |
| Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TERMINOLOGY*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983) |
| Дата опубликования | 01.01.1982 |
| Язык оригинала | en*fr |
| Количество страниц оригинала | 45 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |