IEC 60147-1G(1975)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72
Статус: Заменен Дата введения в действие: 01.01.1975
Обозначение | IEC 60147-1G(1975) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72 |
Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics. |
МКС | 31.080 |
Вид стандарта | ST*N |
Дескрипторы (английский язык) | ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983) |
Дата опубликования | 01.01.1975 |
Язык оригинала | en*fr |
Количество страниц оригинала | 23 |
Количество страниц перевода | 22 |
ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Заменен |