IEC/PAS 62202(2000)
Механизмы и модели отказа для кремниевых полупроводниковых приборов
Статус: Отменен Дата введения в действие: 01.11.2000
| Обозначение | IEC/PAS 62202(2000) |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Механизмы и модели отказа для кремниевых полупроводниковых приборов |
| Заглавие на английском языке | Failure mechanisms and models for silicon semiconductor devices |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 01.11.2000 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 38 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Отменен |