IEC 60147-2C(1970)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63
Статус: Заменен Дата введения в действие: 01.01.1970
| Обозначение | IEC 60147-2C(1970) |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63 |
| Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. |
| МКС | 31.020 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983) |
| Дата опубликования | 01.01.1970 |
| Язык оригинала | en*fr |
| Количество страниц оригинала | 73 |
| Количество страниц перевода | 45 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |