IEC 60147-0D(1974)
Статус: Заменен Дата введения в действие: 01.01.1974
| Обозначение | IEC 60147-0D(1974) |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TERMINOLOGY*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-3(1985)*IEC 60748-2(1985)*IEC 60748-3(1986) |
| Дата опубликования | 01.01.1974 |
| Язык оригинала | en*fr |
| Количество страниц оригинала | 51 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |