OEVE/OENORM EN 60749+A1-2001
Статус: Заменен Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749+A1-2001 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749(2000.05.01) |
| Обозначение заменяющего | OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2(2002.11.01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 59 |
| Статус | Заменен |