OEVE/OENORM EN 62373:2007
Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 62373:2007 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры |
| Заглавие на английском языке | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field- effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006) |
| МКС | 31.080.30 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 62373 (2005-06- 01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 16 |
| Статус | Действует |