DIN 50441-1-1981
Статус: Дата введения в действие: 01.02.1981
| Обозначение | DIN 50441-1-1981 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Testing of semiconductive inorganic materials; determination of the geometric dimensions of semiconductor slices; measurement of thickness |
| Дата опубликования | 01.02.1981 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Обозначение заменяющего | DIN 50441-1(1996.07) |
| Примечание | Das Verfahren dieser Norm dient dazu, die Dicke von Halbleiterscheiben jeder Oberflaechenbeschaffenheit zu bestimmen, wobei sowohl beruehrungsfreie als auch beruehrend arbeitende Dickenmessgeraete verwendet werden koennen. |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 2 |
| Перекрестные ссылки | DIN 4760* DIN 879-1* |
| Код цены | Preisgruppe 5 |