DIN 50434-1976
Статус: Дата введения в действие: 01.01.1976
| Обозначение | DIN 50434-1976 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Testing of semi-conducting inorganic materials; estimation of the crystal perfection of monocrystalline silicon samples on etched |
| Дата опубликования | 01.01.1976 |
| МКС | 29.040.30 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Обозначение заменяющего | DIN 50434(1986.02) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| Код цены | Preisgruppe 6 |