DIN EN 60749-30-2005
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность
Статус: Дата введения в действие: 01.06.2005
| Обозначение | DIN EN 60749-30-2005 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005); German version EN 60749-30:2005 |
| Дата опубликования | 01.06.2005 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 60749-30(2003-06) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-30(2011-12) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 15 |
| Перекрестные ссылки | EN 60749-4(2002-08)* EN 60749-5(2003-03)* EN 60749-11(2002-08)* EN 60749-20(2003-06)* EN 60749-24(2004-04)* EN 60749-25(2003-09)* EN 60749-33(2004-04)* IEC 60749-4(2002-04)* IEC 60749-5(2003-01)* IEC 60749-11(2002-04)* IEC 60749-20(2002-09)* IEC 60749-24(2004-03)* IEC 60749-25(2003-07)* IEC 60749-33(2004-03)* |
| Код цены | Preisgruppe 11 |