DIN EN 62373-2007
Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры
Статус: Дата введения в действие: 01.01.2007
| Обозначение | DIN EN 62373-2007 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры |
| Заглавие на английском языке | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006 |
| Дата опубликования | 01.01.2007 |
| МКС | 31.080.30 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 14 |
| Код цены | Preisgruppe 10 |