DIN EN 60749-23-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
Статус: Дата введения в действие: 01.10.2004
| Обозначение | DIN EN 60749-23-2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004); German version EN 60749-23:2004 |
| Дата опубликования | 01.10.2004 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 60749-23(2002-10) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-23(2011-07) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 11 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60747 Reihe* IEC 60749-34(2004-03)* |
| Код цены | Preisgruppe 9 |