DIN EN 60749-7-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
Статус: Дата введения в действие: 01.04.2003
| Обозначение | DIN EN 60749-7-2003 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2002); German version EN 60749-7:2002 |
| Дата опубликования | 01.04.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-7(2012-02) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-8(2002-08)* |
| Код цены | Preisgruppe 8 |