DIN EN 60749-5-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности
Статус: Дата введения в действие: 01.09.2003
| Обозначение | DIN EN 60749-5-2003 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003 |
| Дата опубликования | 01.09.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-5(2002-06) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-5(2018-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-4(2002-04)* |
| Код цены | Preisgruppe 8 |