DIN 50448-1998
Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение удельного электрического сопротивления полуизолированных полупроводниковых дисков с емкостным зондом
Статус: Дата введения в действие: 01.01.1998
| Обозначение | DIN 50448-1998 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение удельного электрического сопротивления полуизолированных полупроводниковых дисков с емкостным зондом |
| Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulation semiconductor slices using a capacitive probe |
| Дата опубликования | 01.01.1998 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50448(1995-12) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 3 |
| Код цены | Preisgruppe 5 |