DIN 41792 Beiblatt 3-1968
Статус: Дата введения в действие: 01.07.1968
| Обозначение | DIN 41792 Beiblatt 3-1968 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Low-power semiconductor devices measuring methods; thermal resistance |
| Дата опубликования | 01.07.1968 |
| МКС | 31.040.30 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Обозначение заменяющего | DIN IEC 60747-7(1997.12) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 2 |
| Код цены | Preisgruppe 4 |