DIN EN 60749-25-2004
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры
Статус: Дата введения в действие: 01.04.2004
| Обозначение | DIN EN 60749-25-2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003); German version EN 60749-25:2003 |
| Дата опубликования | 01.04.2004 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-25(2002-09) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 15 |
| Перекрестные ссылки | EN 60068-2-14(1999-11)* IEC 60068-2-14(1984)* |
| Код цены | Preisgruppe 11 |