DIN EN 60749-14-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов)
Статус: Дата введения в действие: 01.07.2004
| Обозначение | DIN EN 60749-14-2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) (IEC 60749-14:2003); German version EN 60749-14:2003 |
| Дата опубликования | 01.07.2004 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-14(2002-09) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 19 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-8(2002-08)* |
| Код цены | Preisgruppe 13 |