DIN 45940-1132*CECC 90112-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры монолитные кремниевые динамической памяти для считывания и записи МОП-структуры. Типовая форма частных технических условий
Статус: Дата введения в действие: 01.02.1989
| Обозначение | DIN 45940-1132*CECC 90112-1989 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры монолитные кремниевые динамической памяти для считывания и записи МОП-структуры. Типовая форма частных технических условий |
| Заглавие на английском языке | Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS read/wirte dynamic memories silicon monolithic circuits |
| Дата опубликования | 01.02.1989 |
| МКС | 31.200 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 28 |
| Количество страниц перевода | 28 |
| Перекрестные ссылки | DIN 45940-1(1984-11)* CECC 90100(1986)* IEC 60117* IEC 60117-15* IEC 60147* IEC 60147-0(1966)* IEC 60147-1(1972)* IEC 60147-2(1963)* IEC 60148(1969)* |
| Код цены | Preisgruppe 10 |