DIN 50440-1998
Материалы для полупроводниковой технологии. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в монокристаллах кремния при незначительной инжекции методом фотопроводимости
Статус: Дата введения в действие: 01.11.1998
| Обозначение | DIN 50440-1998 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в монокристаллах кремния при незначительной инжекции методом фотопроводимости |
| Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Measurement of carrier lifetime in silicon single crystals - Recombination carrier lifetime at low injection by photoconductivity method |
| Дата опубликования | 01.11.1998 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50440(1995-12)*DIN 50440-1(1981-11) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 8 |
| Перекрестные ссылки | DIN 19226-2(1994-02)* DIN IEC 60469-1(1991-05)* ASTM F 28(1991)* |
| Код цены | Preisgruppe 7 |