DIN 45940-1130*CECC 90113-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры памяти монолитные кремниевые электрически программируемые на считку со стиранием записи с помощью ультрафиолетового излучения для МОП-структуры. Типовые формы частных технических условий
Статус: Дата введения в действие: 01.02.1989
| Обозначение | DIN 45940-1130*CECC 90113-1989 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры памяти монолитные кремниевые электрически программируемые на считку со стиранием записи с помощью ультрафиолетового излучения для МОП-структуры. Типовые формы частных технических условий |
| Заглавие на английском языке | Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS ultra-violet light erasable electrically programmable read only memories silicon monolithic circuits |
| Дата опубликования | 01.02.1989 |
| МКС | 31.200 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 30 |
| Количество страниц перевода | 38 |
| Перекрестные ссылки | DIN 45940-1(1984-11)* CECC 90100(1986)* IEC 60117* IEC 60117-15* IEC 60147* IEC 60147-0(1966)* IEC 60147-1(1972)* IEC 60147-2(1963)* IEC 60148(1969)* |
| Код цены | Preisgruppe 10 |