DIN EN 60749-35-2007
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке
Статус: Дата введения в действие: 01.03.2007
| Обозначение | DIN EN 60749-35-2007 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006); German version EN 60749-35:2006 |
| Дата опубликования | 01.03.2007 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 60749-35(2004-12) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 21 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-20(2002-09)* |
| Код цены | Preisgruppe 14 |