DIN EN 60749-29-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание"
Статус: Дата введения в действие: 01.07.2004
| Обозначение | DIN EN 60749-29-2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание" |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2003); German version EN 60749-29:2003 + Corrigendum:2004 |
| Дата опубликования | 01.07.2004 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-29(2002-09) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-29(2012-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| Код цены | Preisgruppe 14 |