DIN 50451-1-2003
Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в жидкостях. Часть 1. Определение содержания серебра (Ag), золота (Au), кальция (Ca), меди (Cu), железа (Fe), калия (K) и натрия (Na) в азотной кислоте методом атомно-абсорбционной спектрофотометрии
Статус: Дата введения в действие: 01.04.2003
Обозначение | DIN 50451-1-2003 |
---|---|
Заглавие на русском языке | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в жидкостях. Часть 1. Определение содержания серебра (Ag), золота (Au), кальция (Ca), меди (Cu), железа (Fe), калия (K) и натрия (Na) в азотной кислоте методом атомно-абсорбционной спектрофотометрии |
Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 1: Silver (Ag), gold (Au), calcium (Ca), copper (Cu), iron (Fe), potassium (K) and sodium (Na) in nitric acid by AAS |
Дата опубликования | 01.04.2003 |
МКС | 29.045 |
Вид стандарта | ST |
Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50451-1(1987-10)*DIN 50451-1(2002-01) |
Язык оригинала | немецкий |
Количество страниц оригинала | 8 |
Перекрестные ссылки | DIN 8120-1(1981-07)* DIN 32645(1994-05)* DIN 38406-29(1999-05)* DIN 51401-1(2001-12)* DIN 51401-1 Beiblatt 1(2000-04)* DIN EN ISO 1042(1999-08)* DIN EN ISO 1043-1(2002-06)* DIN EN ISO 8655-2(2002-12)* DIN EN ISO 14644-1(1999-07)* DIN ISO 3696(1991-06)* ASTM D 5127(1999)* VDI 2083 Blatt 1(2001-11)(Draft)* |
Код цены | Preisgruppe 6 |