DIN EN 60749-2-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление
Статус: Дата введения в действие: 01.04.2003
| Обозначение | DIN EN 60749-2-2003 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002 |
| Дата опубликования | 01.04.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 8 |
| Перекрестные ссылки | EN 60068-2-13(1999-04)* IEC 60068-2-13(1983)* |
| Код цены | Preisgruppe 8 |