ГОСТ 4.64-80
Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.07.1981
Обозначение | ГОСТ 4.64-80 |
---|---|
Полное обозначение | ГОСТ 4.64-80 |
Заглавие на русском языке | Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей |
Заглавие на английском языке | Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
Дата введения в действие | 01.07.1981 |
ОКС | 03.120;29.045 |
Код ОКП | 177000 |
Код КГС | Т51 |
Код ОКСТУ | 0004;1770 |
Индекс рубрикатора ГРНТИ | 818105;470929;470181 |
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
Ключевые слова | полупроводниковые материалы;показатели качества;номенклатура |
Вид стандарта | Основополагающие стандарты |
Управление Ростехрегулирования | 320 - Управление стандартизации и сертификации сырья и материалов |
Разработчик МНД | Российская Федерация |
Межгосударственный ТК | 104 - Полупроводниковая и редкометаллическая продукция |
Дата последнего издания | 01.02.1985 |
Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1 |
Количество страниц (оригинала) | 11 |
Организация - Разработчик | ГИРедмет |
Статус | Действует |
Код цены | 2 |
Номер ТК за которым закреплен документ | 303 |
Номер приказа о закреплении документа за ТК | 217 |
Дата приказа о закреплении документа за ТК | 31.01.2023 |