OEVE/OENORM EN 62374:2008
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 62374:2008 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 62374 (2005-09-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 26 |
| Статус | Действует |