ГОСТ 8.594-2009
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.11.2010
Обозначение | ГОСТ 8.594-2009 |
---|---|
Полное обозначение | ГОСТ 8.594-2009 |
Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки |
Заглавие на английском языке | State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron microscopes. Method for verification |
Дата введения в действие | 01.11.2010 |
ОКС | 17.040.01 |
Код КГС | Т88 |
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на растровые электронные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592 |
Ключевые слова | длина;рельефные меры нанометрового диапазона;растровые электронные микроскопы;методика поверки |
Термины и определения | Раздел стандарта |
Вид стандарта | Основополагающие стандарты |
Дескрипторы (английский язык) | state system, ensuring, uniformity, measurements, scanning electron microscopes, verification |
Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 8.591; ГОСТ 8.592; ГОСТ 12.2.0611; ГОСТ Р ИСО 14644-1-2017; |
Документ внесен организацией СНГ | Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) |
Документ принят организацией СНГ | Межгосударственный Совет по стандартизации метрологии и сертификации |
Номер протокола | 36-2009 |
Дата принятия в МГС | 11.11.2009 |
Присоединившиеся страны | Кыргызская Республика; Республика Армения; Республика Беларусь; Республика Казахстан; Республика Молдова; Республика Таджикистан; Республика Узбекистан; Российская Федерация; Украина |
Управление Ростехрегулирования | 310 - Управление метрологии |
Технический комитет России | 441 - Нанотехнологии |
Дата последнего издания | 09.12.2019 |
Номер(а) изменении(й) | переиздание |
Количество страниц (оригинала) | 12 |
Организация - Разработчик | Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (Россия); Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт» (Россия); Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия) |
Статус | Действует |
Код цены | 2 |