DIN EN 62415-2010
Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока
Статус: Дата введения в действие: 01.12.2010
| Обозначение | DIN EN 62415-2010 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010); German version EN 62415:2010 |
| Дата опубликования | 01.12.2010 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 12 |
| Перекрестные ссылки | EIA JESD 33-A(1995)* |
| Код цены | Preisgruppe 11 |