DIN EN 62418-2010
Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
Статус: Дата введения в действие: 01.12.2010
Обозначение | DIN EN 62418-2010 |
---|---|
Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010); German version EN 62418:2010 |
Дата опубликования | 01.12.2010 |
МКС | 25.220.40*31.080.01 |
Вид стандарта | ST |
Язык оригинала | немецкий |
Количество страниц оригинала | 19 |
Код цены | Preisgruppe 14 |