DIN EN 62417-2010
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
Статус: Дата введения в действие: 01.12.2010
| Обозначение | DIN EN 62417-2010 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010); German version EN 62417:2010 |
| Дата опубликования | 01.12.2010 |
| МКС | 31.200 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 9 |
| Код цены | Preisgruppe 9 |