DIN EN 62416-2010
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
Статус: Дата введения в действие: 01.12.2010
| Обозначение | DIN EN 62416-2010 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (IEC 62416:2010); German version EN 62416:2010 |
| Дата опубликования | 01.12.2010 |
| МКС | 31.080.30 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 12 |
| Код цены | Preisgruppe 11 |