OEVE/OENORM EN 62417:2011
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 62417:2011 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010) (german version) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 62417 (2008-12-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| Статус | Действует |