OEVE/OENORM EN 62416:2011
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 62416:2011 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (IEC 62416:2010) (german version) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 62416 (2008-12-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 13 |
| Статус | Действует |