OEVE/OENORM EN 62418:2011
Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 62418:2011 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010) (german version) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 62418 (2009-04-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| Статус | Действует |