OEVE/OENORM EN 62132-2:2011
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 2. Измерение стойкости к излученным помехам. Ячейка ТЕМ и метод с использованием широкополосной ТЕМ
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 62132-2:2011 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 2. Измерение стойкости к излученным помехам. Ячейка ТЕМ и метод с использованием широкополосной ТЕМ |
| Заглавие на английском языке | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 62132-2:2010) (german version) |
| МКС | 31.200;33.100.20 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 62132-2 (2008-08-15) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 27 |
| Статус | Действует |