DIN EN 60749-40-2012
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра
Статус: Дата введения в действие: 01.02.2012
Обозначение | DIN EN 60749-40-2012 |
---|---|
Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011 |
Дата опубликования | 01.02.2012 |
МКС | 31.080.01 |
Вид стандарта | ST |
Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 60749-40(2009-06) |
Язык оригинала | немецкий |
Количество страниц оригинала | 23 |
Перекрестные ссылки | IEC 60749-37(2008-01)* |
Код цены | Preisgruppe 15 |