ISO/TR 11811:2012
Нанотехнологии. Руководство по методам нано- и микротрибологических измерений
Статус: Действует Дата введения в действие: 15.08.2012
| Обозначение | ISO/TR 11811:2012 |
|---|---|
| Обозначение | ISO/TR 11811:2012 |
| Статус | Действует |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Нанотехнологии. Руководство по методам нано- и микротрибологических измерений |
| Заглавие на русском языке | Нанотехнологии. Руководство по методам нано- и микротрибологических измерений |
| Заглавие на английском языке | Nanotechnologies -- Guidance on methods for nano- and microtribology measurements |
| Заглавие на английском языке | Nanotechnologies -- Guidance on methods for nano- and microtribology measurements |
| Код КС (ОКС, МКС) | 07.030 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 07.030 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 229 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 229 |
| Язык оригинала | английский |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 15.08.2012 |
| Дата опубликования | 15.08.2012 |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий Технический отчет устанавливает технику оценивания трибологических характеристик контактов при скольжении поперечным размером от нескольких нанометров (нм) до 10 мкм, и при приложенной нагрузке от 50 мкН до 100 мкН. В Техническом отчете описаны процедуры выполнения таких измерений и представлено руководство по влиянию некоторых параметров на результаты испытаний. Сюда не вошли существующие методы сканирующей зондовой микроскопии (SPM), такие как микроскопия сил трения и микроскопия атомных сил (AFM) |
| Аннотация (область применения) | Настоящий Технический отчет устанавливает технику оценивания трибологических характеристик контактов при скольжении поперечным размером от нескольких нанометров (нм) до 10 мкм, и при приложенной нагрузке от 50 мкН до 100 мкН. В Техническом отчете описаны процедуры выполнения таких измерений и представлено руководство по влиянию некоторых параметров на результаты испытаний. Сюда не вошли существующие методы сканирующей зондовой микроскопии (SPM), такие как микроскопия сил трения и микроскопия атомных сил (AFM) |
| Количество страниц перевода | 23 |
| Количество страниц перевода | 23 |
| Код цены | C |
| Код цены | C |