DIN 50443-2-1994
Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии
Статус: Дата введения в действие: 01.06.1994
| Обозначение | DIN 50443-2-1994 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии |
| Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds |
| Дата опубликования | 01.06.1994 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50443-2(1992-03) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| Перекрестные ссылки | DIN 50433-1(1976-12)* DIN 50433-3(1982-04)* DIN 50434(1986-02)* DIN 50443-1(1988-07)* |
| Код цены | Preisgruppe 7 |