DIN EN 60749-38-2008
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью
Статус: Дата введения в действие: 01.10.2008
| Обозначение | DIN EN 60749-38-2008 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008 |
| Дата опубликования | 01.10.2008 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 14 |
| Код цены | Preisgruppe 9 |