DIN EN 60749-44-2017
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов
Статус: Дата введения в действие: 01.04.2017
| Обозначение | DIN EN 60749-44-2017 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016 |
| Дата опубликования | 01.04.2017 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-44(2014-08) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-38(2008-02)* IEC 62396-4(2013-09)* IEC 62396-5(2014-08)* |
| Код цены | Preisgruppe 15 |