IEC/TR 63133(2017)
Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании
Статус: Действует Дата введения в действие: 11.10.2017
| Обозначение | IEC/TR 63133(2017) |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 11.10.2017 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | E |