IEC/TS 62876-2-1(2018)
Нанотехнологии. Оценка надежности. Часть 2-1. Устройства фотоэлектрические нанотехнологические. Испытания на стойкость
Статус: Действует Дата введения в действие: 29.08.2018
| Обозначение | IEC/TS 62876-2-1(2018) |
|---|---|
| Обозначение | IEC/TS 62876-2-1(2018) |
| Заглавие на русском языке | Нанотехнологии. Оценка надежности. Часть 2-1. Устройства фотоэлектрические нанотехнологические. Испытания на стойкость |
| Заглавие на русском языке | Нанотехнологии. Оценка надежности. Часть 2-1. Устройства фотоэлектрические нанотехнологические. Испытания на стойкость |
| Заглавие на английском языке | Nanotechnology - Reliability assessment - Part 2-1: Nano-enabled photovoltaic devices - Stability test |
| Заглавие на английском языке | Nanotechnology - Reliability assessment - Part 2-1: Nano-enabled photovoltaic devices - Stability test |
| МКС | 07.120, 27.160 |
| МКС | 07.120, 27.160 |
| Аннотация (область применения) | Настоящая часть IEC 62876, которая является Техническими условиями, устанавливает общую программу испытаний для проверки стабильности характеристик наноматериалов и приборов с нанотехнологическими фотоэлектрическими устройствами (НФЭУ). Эти устройства используют в качестве узлов для изготовления фотоэлектрических модулей в комбинации с другими компонентами. Эта программа испытаний устанавливает стандартизированные условия деградации, методологию и оценку данных для технологий. По результатам этих испытаний определяют стабильность характеристик НФЭУ в стандартизированных условиях деградации, а также проводят количественную оценку стабильности новой технологии. Процедуры, изложенные в настоящем документе, были разработаны для НФЭУ, но могут быть применимы в качестве руководства для других фотоэлектрических технологий |
| Аннотация (область применения) | Настоящая часть IEC 62876, которая является Техническими условиями, устанавливает общую программу испытаний для проверки стабильности характеристик наноматериалов и приборов с нанотехнологическими фотоэлектрическими устройствами (НФЭУ). Эти устройства используют в качестве узлов для изготовления фотоэлектрических модулей в комбинации с другими компонентами. Эта программа испытаний устанавливает стандартизированные условия деградации, методологию и оценку данных для технологий. По результатам этих испытаний определяют стабильность характеристик НФЭУ в стандартизированных условиях деградации, а также проводят количественную оценку стабильности новой технологии. Процедуры, изложенные в настоящем документе, были разработаны для НФЭУ, но могут быть применимы в качестве руководства для других фотоэлектрических технологий |
| Вид стандарта | ST |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 29.08.2018 |
| Дата опубликования | 29.08.2018 |
| Язык оригинала | английский |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 30 |
| Количество страниц оригинала | 30 |
| Количество страниц перевода | 35 |
| Количество страниц перевода | 35 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 113 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 113 |
| Номер издания | 1.0 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Статус | Действует |
| Код цены | G |
| Код цены | G |