PD IEC/TR 63133:2017
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | PD IEC/TR 63133:2017 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices |
| Количество страниц оригинала | 20 |
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | PD IEC/TR 63133:2017 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices |
| Количество страниц оригинала | 20 |