IEC/TS 63342(2022)
Модули фотоэлектрические C-Si. Испытание на деградацию, вызванную светом и повышенной температурой (LETID). Обнаружение
Статус: Действует Дата введения в действие: 20.07.2022
| Обозначение | IEC/TS 63342(2022) |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Модули фотоэлектрические C-Si. Испытание на деградацию, вызванную светом и повышенной температурой (LETID). Обнаружение |
| Заглавие на английском языке | C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection |
| МКС | 27.160 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 20.07.2022 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 13 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 82 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | D |