ГОСТ Р 71380-2024
Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Метод контроля закругленности края
Статус: Принят Дата введения в действие: 01.03.2025
| Обозначение | ГОСТ Р 71380-2024 |
|---|---|
| Полное обозначение | ГОСТ Р 71380-2024 |
| Заглавие на русском языке | Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Метод контроля закругленности края |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor and dielectric plates. Edge roundness control method |
| Дата введения в действие | 01.03.2025 |
| ОКС | 33.060.99 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые и диэлектрические пластины, применяемые для изготовления изделий электронной компонентной базы, и устанавливает метод теневой проекции для контроля закругленности края пластин на различных стадиях технологического процесса их изготовления |
| Ключевые слова | пластины полупроводниковые и диэлектрические, калибр, методы контроля закругленности края |
| Термины и определения | Раздел стандарта |
| Вид стандарта | Стандарты на продукцию (услуги) |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 12.1.004; ГОСТ 12.1.040; ГОСТ 12.2.003; ГОСТ 12.3.019; ГОСТ 427; ГОСТ 3749; ГОСТ 9038; ГОСТ 10905; |
| Управление Ростехрегулирования | 1 - Управление стандартизации |
| Технический комитет России | 303 - Электронная компонентная база, материалы и оборудование |
| Дата последнего издания | 27.05.2024 |
| Количество страниц (оригинала) | 8 |
| Организация - Разработчик | Акционерное общество «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (АО «РНИИ «Электронстандарт») |
| Статус | Принят |
| Код цены | 1 |
| Номер ТК за которым закреплен документ | 303 |
| Номер приказа о закреплении документа за ТК | 596-ст |
| Дата приказа о закреплении документа за ТК | 13.05.2024 |